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晶圓級測試

VisEra提供晶圓級測試服務,在工程階段的能夠大幅縮短開發週期,並降低成本。采鈺提供全面的晶圓級測試服務包含CP測試, 量子效率測試 (QE) 和晶圓級斜向入射光量測系統,客戶可以在采鈺的製程後(晶圓階段)得到所需數據,而不需等到晶片測試(Final Test, FT) 階段。使得晶圓可以有重製的機會以節省研發成本。

 
測試項目 感測器/光學指標
晶圓級CP 測試 (Wafer level CP) 均勻度測試 Uniformity
缺陷檢測 Pixel Defect
像素間感測差異測試(Photo-Response Non-uniform, PRNU)
晶圓級量子效率測試
(Wafer level Quantum Efficiency, WLQE)
量子效率測試(Quantum Efficiency, QE)
光子轉移曲線(Photo Transfer Curve, PTC)
晶圓 / 濾光膜缺陷測試(defect)
晶圓級斜向入射光量測
(Wafer level angel response, WLAR)
Chief ray angle (CRA)
相位對焦測試(Phase Detection Auto Focus, PDAF)
光串擾測試Cross talk